随着纳米材料、电子束敏感材料和表面结构异质性的表征需求日益增长，低电压扫描电子显微技术因其能有效抑制电荷积累、降低电子束损伤、增强表面信息灵敏度及提高材料本征衬度，已成为先进材料表征的关键手段。高端场发射扫描电子显微镜凭借其优异的电子光学设计与复合检测系统，为实现高质量低电压成像提供了理想平台。然而，不同探测器在低电压条件下的工作机制存在显著差异，应用时需权衡信息获取效率与信号复杂性。本次讲座将系统阐述低电压成像对提升表面敏感分辨率、减少穿透伪影及实现真实纳米尺度观测的核心价值，并聚焦场发射扫描电镜中四种典型探测器在低电压模式下的表征策略。

报告一：多探测器低电压高分辨扫描成像技术    

报告人：李英男，赛默飞世尔科技应用专家，拥有将近10年的电镜使用经验，在扫描电镜系统的操作，维护，数据处理及其在各型材料表征方面经验丰富。

报告二：高分辨扫描电镜成像技术最新进展

报告人：罗俊，赛默飞世尔科技电镜产品专家，拥有15年扫描电镜行业经验，对各品牌电镜具有丰富的产品知识和使用经验，并对各类型样品的表征有多年的经验积累。

讲座时间：2026年6月23日星期二 9:30 – 11:30

讲座地点：理科教学北楼202-2室

分析测试中心   

2026年6月18日