200kV场发射透射电子显微镜
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1408/次机时次数
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2816/小时总时长
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74/人收藏者
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收费标准
机时300元/小时 -
设备型号
JEOL JEM-2100F -
当前状态
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管理员
何瑾,杨猛 18819813009 13640638467 -
放置地点
广州大学理学实验楼1层中座首层透射电镜室
- 仪器信息
- 附件下载
- 公告
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名称
200kV场发射透射电子显微镜
资产编号
2021003359
型号
JEOL JEM-2100F
规格
产地
日本
厂家
JEOL
所属品牌
出产日期
购买日期
2018-01-05
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
表面与结构分析平台
资产负责人
何瑾 杨猛
联系电话
18819813009,13640638467
联系邮箱
放置地点
广州大学理学实验楼1层中座首层透射电镜室
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
1、最高加速电压:200kV；
2、点分辨率：≤0.19nm ；线分辨率：≤0.10nm； 3、放大倍数：2000~150万倍；
4、STEM分辨率：0.2nm。
2、点分辨率：≤0.19nm ；线分辨率：≤0.10nm； 3、放大倍数：2000~150万倍；
4、STEM分辨率：0.2nm。
主要功能及特色
样品形貌、结构及成份的分析。可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学，金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。透射电镜分辨率极高，放大倍数大，能反映样品的内部结构。
技术特色：
1、超高分辨率同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息；
2、高亮度场发射电子枪； 3、束斑尺寸小于0.5nm；
4、新式侧插测角台，更容易倾转、旋转、加热和冷冻，无机械飘移； 5、稳定性好、操作简便；
6、微处理器和PC两套系统控制，防止死机。
技术特色：
1、超高分辨率同时，还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息；
2、高亮度场发射电子枪； 3、束斑尺寸小于0.5nm；
4、新式侧插测角台，更容易倾转、旋转、加热和冷冻，无机械飘移； 5、稳定性好、操作简便；
6、微处理器和PC两套系统控制，防止死机。
样本检测注意事项
送检样品必须无磁性、放射性和腐蚀性。应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形；含水分较多的生物软组织的样品制备，要求用户自己进行临界点干燥固定、清洗、脱水及用醋酸（异）戊酯置换等处理。纳米样品一般需超声波分散。
设备使用相关说明
主要附件:CCD相机、OXFORD能谱仪、UC7超薄切片机、超声波切割机、圆片打孔机、手动研磨盘、样品固定加热台、高精度凹坑仪、带低能量枪、带冷台的精密离子减薄仪。
附件下载
公告
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