X射线粉末衍射仪
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5038/次送样次数
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收费标准
机时0元/样品送样详见检测项目 -
设备型号
PW3040/60 -
当前状态
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管理员
何瑾 18819813009 -
放置地点
广州大学理科教学楼北楼2层205
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
X射线粉末衍射仪
资产编号
1020130003
型号
PW3040/60
规格
产地
荷兰
厂家
PANalytical
所属品牌
出产日期
2011-11-11
购买日期
2012-10-24
所属单位
分析测试中心
使用性质
科研
所属分类
材料微区分析平台
资产负责人
何瑾
联系电话
18819813009
联系邮箱
58372302@qq.com
放置地点
广州大学理科教学楼北楼2层205
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
主要规格&技术指标
测角范围(2θ):1 ~ 140°
X射线发生器:最大输出功率:3kW;最大电压:60kV;最大电流:60mA;
陶瓷X光管:最大功率:2.2kW(Cu靶);最大电压:60kV;最大电流:55 mA;
测角仪:转动方式:q/q 模式;角度重现性:+/- 0.0001 度;
探测器:阵列探测器,微型探测器的数目大于100个;
动态范围:4,000,000cps 或以上;线性范围:1,000,000cps 或以上;
最大背景:< 0.2cps。
X射线发生器:最大输出功率:3kW;最大电压:60kV;最大电流:60mA;
陶瓷X光管:最大功率:2.2kW(Cu靶);最大电压:60kV;最大电流:55 mA;
测角仪:转动方式:q/q 模式;角度重现性:+/- 0.0001 度;
探测器:阵列探测器,微型探测器的数目大于100个;
动态范围:4,000,000cps 或以上;线性范围:1,000,000cps 或以上;
最大背景:< 0.2cps。
主要功能及特色
广角测定,配备PDF-2国际粉末衍射数据库。可测定物质的晶体结构,并进行物相定性和半定量分析,晶粒大小分析等。广泛应用于物理、化学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。
样本检测注意事项
粉末样品;若要慢扫,按每分钟10元收费;
预约资源
检测项目
附件下载
公告
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